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簡(jiǎn)要描述：透射電鏡全角度三維重構樣品桿在搭載直徑3 mm銅網(wǎng)的傳統三維重構樣品臺的基礎上延伸，采用彈頭的單軸旋轉方式進(jìn)行繞樣品臺全角度360°觀(guān)察，可以接受棒狀或圓錐形樣品。
產(chǎn)品型號：廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家更新時(shí)間：2023-12-27訪(fǎng) 問(wèn) 量： 3238產(chǎn)品分類(lèi)
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CHIPNOVA Single-tilt Tomography Holders（全角度三維重構樣品桿）在普通三維重構樣品桿的基礎上升級而來(lái)，采用圓錐形單軸360°旋轉方式，全角度得到樣品更多二維成像信息，避免鍥形信息丟失。
創(chuàng )新設計
1.高強度鈦合金特殊結構設計，高精度加工，經(jīng)久耐用。
2.C型針尖創(chuàng )新結構設計，保證銅網(wǎng)穩定性，不會(huì )對EDS分析造成干擾。
3.可替換式針尖，方便同一樣品在TEM、FIB、AP等多平臺轉移，獲取更全面信息。
1.單軸針尖可360°高精度旋轉，獲取更多二維成像信息，避免鍥形信息丟失。
2.C型針尖為3mmHalf-Grid設計，α角最大旋轉角度為±90°，避免樣品陰影，提供高質(zhì)量層析成像數據。
| 類(lèi)別 | 項目 | 參數 |
| 基本參數 | 桿體材質(zhì) | 高強度鈦合金 |
| 樣品直徑 | 棒狀、圓錐形、3mm Half-Grid | |
| 漂移率 | ＜0.5 nm/min（穩定狀態(tài)） | |
| 分辨率 | 電鏡極限分辨率 | |
| 兼容電鏡 | Thermo Fisher/FEI，JEOL，Hitachi | |
| (HR)TEM/STEM | 支持 | |
| (HR)EDS/EELS/SAED | 支持 |
電子斷層掃描對納米尺度地質(zhì)材料的三維分析
參考文獻來(lái)源：Three-dimensional Analyses of Geological Materials on Nanoscale by Electron Tomography[J]. Atomic Spectroscopy, 2022.
最大傾斜角度為±54°、間隔為6°的一系列傾斜圖像重建結果。
同一樣品的元素和氧化態(tài)重構模型的3D視圖。
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