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透射電鏡液體升溫原位系統采用MEMS微加工工藝在原位樣品臺內構建液氛納米實(shí)驗室,通過(guò)MEMS芯片加熱,結合使用EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式,實(shí)現從納米甚至原子層面實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)監測樣品在液氛環(huán)境中隨溫度變化產(chǎn)生的微觀(guān)結構演化、反應動(dòng)力學(xué)、相變、元素價(jià)態(tài)、化學(xué)變化、微觀(guān)應力以及表/界面處的原子級結構和成分演化等關(guān)鍵信息。
透射電鏡液體光學(xué)原位系統采用MEMS微加工工藝在原位樣品臺內構建液氛納米實(shí)驗室,通過(guò)樣品臺內置的光纖將光作為外場(chǎng)條件搭載其上,通過(guò)MEMS芯片和光纖引入的光源對樣品施加光場(chǎng)刺激條件……
掃描電鏡液體電化學(xué)原位系統通過(guò)MEMS芯片對薄層或納米電池系統施加電信號等,結合EDS等多種不同模式,實(shí)現從納米層面實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)監測電極、電解液及其界面在工況下的微觀(guān)結構演化、反應動(dòng)力學(xué)、相變、化學(xué)變化、表/界面處的結構和成分演化等關(guān)鍵信息。
透射電鏡雙傾熱電原位系統通過(guò)MEMS芯片在原位樣品臺內構建熱、電復合多場(chǎng)自動(dòng)控制及反饋測量系統,結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式,實(shí)現從納米甚至原子層面實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)監測樣品在真空環(huán)境下隨溫度、電場(chǎng)變化產(chǎn)生的微觀(guān)結構、相變、元素價(jià)態(tài)、微觀(guān)應力以及表/界面處的原子級結構和成分演化等關(guān)鍵信息。
透射電鏡三維重構樣品桿通過(guò)一系列的不同傾斜角獲得樣品的二維成像信息,并對其進(jìn)行處理轉化為三維信息,該樣品臺可直接組裝直徑3 mm的銅網(wǎng)樣品,不僅可進(jìn)行樣品的三維重構,還可用于樣品材料的掃描透射模式下高角環(huán)形暗場(chǎng)成像(HAADF-STEM)的高分辨分析。
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